三元合金镀层膜厚仪Thick800A是天瑞集多年X荧光光谱仪的生产研发经验基础上，研发出专门针对三元合金电镀镀层厚度测量快速无损分析的仪器。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，精度可达进口标准，国内处于*地位。

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测厚仪标准片,又称测厚仪校正片、标准箔、膜厚片等，主要是用于X射线测厚仪的校准，和建立标准曲线使用，因为X荧光测厚仪，都是对比性的检测设备，所以需要专业的标准片做对比后，得出待测样品的镀层厚度。